威宏盛芯

产品测试

我们提供

可测试性和可制造性设计

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测试结果分析

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系统级测试

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产品测试

可測試性和可製造性設計

借助我们的结构化和自动化测试方法，威宏盛芯可以帮助您顺利地检测芯片生产过程中的任何缺陷，以确保您的产品在上市时满足质量要求且符合业界标准。

PKG
UBI
Mark
VMI
CP
FTH
FTC
SLT
FG
  • Die Temp. @25°C
  • Fault Coverage Test
  • MFG ID
  • Die Temp. @90°C
  • Fault Coverage Test
  • FTH_minV
  • Max Power
  • Guard Band(GB)
  • PLL Calibration
  • Speed Binning
  • Per Part Database
  • Die Temp. @5°C
  • Fault Coverage Test
  • FTC_minV
  • Parallax Offset
  • P/F@FTH_minV + GB
  • Efuse
  • Product ID
  • Per Part Database
CP
PKG
FTH
UBI
FTC
Mark
SLT
VMI
FG
  • Die Temp. @25°C
  • Fault Coverage Test
  • MFG ID
  • Die Temp. @90°C
  • Fault Coverage Test
  • FTH_minV
  • Max Power
  • Guard Band(GB)
  • PLL Calibration
  • Speed Binning
  • Per Part Database
  • Die Temp. @5°C
  • Fault Coverage Test
  • FTC_minV
  • Parallax Offset
  • P/F@FTH_minV + GB
  • Efuse
  • Product ID
  • Per Part Database

我们提供

  • Logic ATPG与 Logic/Memory BIST的DFT测试计划
  • Stuck-at, functional, 与 speed fault 的错误覆盖率报告
  • 错误覆盖率的关联性分析报告与提升
  • CP/FT 晶圆测试程序开发
  • 探针卡、测试载板和主动式热控制之设计

产品测试

測試結果分析

凭借我们独特的DFT测试电路，威宏盛芯可以轻松汇总和分析芯片测试数据，使我们能够为您提供改进产品设计和提升良率所需的数据，并同时降低成本及提高质量。

3.3.2-1
3.3.2-2
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产品测试

系統級測試

对于无法使用自动测试设备进行完整测试的复杂芯片，威宏盛芯可为您提供执行系统级测试 (SLT) 的软硬件平台，从而以较低的成本获得直接的测试结果，从而加快产品上市速度。

SLT Infrastructure
Data Collection and Analysis
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我们提供

  • 系统测试板与温控系统设计
  • 客制化系统测试软件开发
  • 实时监控测试结果与平台状态
  • 系统测试数据收集与分析