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可測試性和可製造性設計

借助我們的結構化和自動化測試方法,威宏科技可以幫助您順利地檢測晶片設計中的任何缺陷,以確保您的產品在上市時滿足品質要求且符合業界標準。

PKG
UBI
Mark
VMI
CP
FTH
FTC
SLT
FG











  • Die Temp. @25°C
  • Fault Coverage Test
  • MFG ID
  • Die Temp. @90°C
  • Fault Coverage Test
  • FTH_minV
  • Max Power
  • Guard Band(GB)
  • PLL Calibration
  • Speed Binning
  • Per Part Database
  • Die Temp. @5°C
  • Fault Coverage Test
  • FTC_minV
  • Parallax Offset
  • P/F@FTH_minV + GB
  • Efuse
  • Product ID
  • Per Part Database
CP
PKG
FTH
UBI
FTC
Mark
SLT
VMI
FG
  • Die Temp. @25°C
  • Fault Coverage Test
  • MFG ID
  • Die Temp. @90°C
  • Fault Coverage Test
  • FTH_minV
  • Max Power
  • Guard Band(GB)
  • PLL Calibration
  • Speed Binning
  • Per Part Database
  • Die Temp. @5°C
  • Fault Coverage Test
  • FTC_minV
  • Parallax Offset
  • P/F@FTH_minV + GB
  • Efuse
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測試結果分析

憑藉我們獨特的DFT測試電路,威宏科技可以輕鬆匯總和分析晶片測試數據,使我們能夠為您提供改進產品設計和提升良率所需的數據,並同時降低成本及提高品質。

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系統級測試

對於無法使用自動測試設備進行完整測試的複雜晶片,威宏科技可為您提供執行系統級測試 (SLT) 的軟硬體平台,從而以較低的成本獲得直接的測試結果,從而加快產品上市速度

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